上海安竹光電X射線檢測(cè)設(shè)備 生產(chǎn)多種類型XDR-AZ550型XDR-AZ1500型 XDR-AZ350型 XDR-AZ1600型 XDR-AZ850型 XDR-AZ950型微焦數(shù)字成像 XDR-AZ650微焦X射線檢測(cè)設(shè)備 DR平板探測(cè)器 非晶硅 無(wú)線 有線 動(dòng)態(tài) 靜態(tài) 尺寸大小 等 款式多多 供客戶選擇 詳情請(qǐng)聯(lián)系：上海安竹光電

工業(yè)XRAY探傷檢測(cè)設(shè)備的應(yīng)用領(lǐng)域與核心功能

工業(yè)XRAY探傷檢測(cè)設(shè)備作為一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)，通過(guò)X射線穿透物體并根據(jù)材料密度差異成像，廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域的質(zhì)量控制與缺陷檢測(cè)。其核心功能包括內(nèi)部結(jié)構(gòu)可視化和缺陷識(shí)別，可檢測(cè)氣泡、裂紋、雜質(zhì)、疏松等隱蔽問(wèn)題，同時(shí)避免對(duì)工件造成損傷